Micro-Epsilon电容位移传感器capaNCDT系列测量原理

使用capaNCDT（非接触电容位移传感器）系统进行位移测量是基于理想平板电容的工作原理。两个平板电极分别由传感器和相对的测量对象来表示。如果一个恒定的交变电流流过电容传感器，则传感器上交变电压的振幅变化与电容极板之间的距离成正比。交流电经过解调并作为模拟量信号输出

电容位移传感器用途

传感器能够对所有导电材料进行测量，如果选择适当的控制器甚至可以在绝缘材料上进行使用。电容传感器用于位移、位置和厚度测量。

测量原理的优势

无磨损和非接触测量

对导电和非导电物体的距离与厚度测量

无与伦比的高精度和稳定性

用于高速测量的高带宽

适用于工业环境、电磁场和真空环境内

实践表明，capaNCDT测量系统在线性度、重复性和分辨率方面取得了优异的成绩。在工业环境中能够达到亚微米的精度，而在实验室环境中甚至可以达到亚纳米级别的精度。

现代和用户友好的控制器技术

现代的capaNCDT控制器对于不同应用领域都是非常理想的选择。通过网页界面提供的各种界面和易用性允许快速集成到相应的应用程序环境中

高分辨率多通道系列capaNCDT电容非接触位移传感器系统，适用于生产设备，测试设备，实验室和不同流程的质量保证等应用场合。capaNCDT系统为多通道模块化设计机构。通过信号前置放大器可能有8支传感器探头与信号调节电路（欧洲标准插卡）相连接。DL型号，前置放大器被集成于机箱内并使用最多4米的电缆。对于需要电缆长度超过4米的情况，需要同时使用DL和外置前置放大器CP或CPM